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                                                  檢驗檢測服務
                                                  場發射掃描電子顯微鏡-NanoSEM 450
                                                  發布時間:2015-08-31     點擊次數:637

                                                   

                                                          本設備是一款超高分辨率低真空場發射掃描電鏡,

                                                  具有高真空和低真空(<200Pa)兩種真空模式,可以

                                                  對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等

                                                  有電荷積累的樣品或污染性樣品進行超高分辨率表征。

                                                  性能及指標

                                                  1、分辨率:高真空模式:1.0nm @15kV,1.4nm @1kV 

                                                                         低真空模式:1.5nm @10kV(Helix探測器),

                                                                                                   1.8nm @ 3kV(Helix探測器)

                                                  2、加速電壓:500V~30kV連續可調;

                                                  3、電子束流范圍:0.6pA~200nA連續可調;

                                                  4、樣品臺移動范圍:X=Y=110mm;

                                                  5、電子束參數:射束著陸能量:500eV-30keV;

                                                  6、標樣放大倍數:40倍~60萬倍;

                                                  7、傾斜角度:-10°~70°

                                                  功能及用途

                                                  1、采集二次電子、背散射電子等信號對各種固體材料進行的微觀形貌分析;

                                                  2、對容易污染、容易電荷積累的納米材料和納米器件進行觀察和分析;

                                                  3、可實現固體樣品的微觀形貌觀察和微區能譜成分分析、線分析及面分布分析;

                                                  4、配備的背散射探頭可獲得樣品成分襯度圖片;

                                                  5、配備的低真空探頭可對不導電樣品進行形貌及成分分析,而不需要進行噴金處理。


                                                  對外服務

                                                  本公司掃描電鏡提供對外服務。

                                                   

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